home
keyboard_arrow_right
공모요강
description 공모요강
layers응모 자격
- - 국내외 대학(원)생 및 Post Doc으로 공학관련 순수 또는 응용기술논문 작성 가능자
- ※ 전공 및 편수 제한 없음, Post Doc의 경우 학교 소속인 자에 限함
- ※ 기업 및 연구기관 등에 재직 중인 학술연수자 또는 파트타임 대학원생은 응모대상에서 제외됨
- - 제출논문의 경우, 논문 본문 접수 마감일을 기준으로 국내외 공개 출판물(온라인 포함)에 발표되지 않은 논문
layers응모 분야 및 주제
분과 | 기술분류 | 세부주제 |
---|---|---|
소재기술 | 무기재료 | 금속재료, 자성재료, 유전체재료, 압전재료, 세라믹 재료, Glass 재료, 나노재료, 재료 합성 等 |
유기재료 | 고분자재료, 절연재료, 광학재료, 감광성 재료, 재료 합성 | |
복합재료 | 유전체/전극 Paste | |
소자 및 공정기술 | 소자 | MEMS Device (BAW Filter, SAW Filter), 센서, 전고체 전지 等 |
공정 | 박층 성형(분급/분산/성형/적층/인쇄), 가공(절단/소성), 박막, 인쇄회로(도금/회로/가공/Bumping), PKG 설계/공정 等 |
|
광학기술 | 렌즈 | 광학 및 기구 설계, 신규 광학 구조 等 |
Actuator | 제어, 설계, 구조, 자기회로, Slim 等 | |
RF 기술 | RF | RF Devices & Antenna, Analog/Mixed-Signal IC, sub 6 5G용 통신모듈 및 부품 等 |
SW | Algorithm, Image/Signal Processing, Real-time/Embedded Systems 등 | |
Base Tech | 측정 | Materials Analysis(물성/구조/화학 분석 等) |
분석 | Measurement Technology (Instrumentation & Method) | |
신뢰성 | 고장 분석, 신뢰성 향상 기술, 신규 측정/시험법 等 | |
시뮬레이션/ 계산과학 |
열/유체/구조/진동, 전자장/RF/회로/EMI, 광학/광소자, 재료. 화학반응 해석, Material Informatics 等 | |
생산기술 | Mechatronics, 자동화, 공정 검사(Inspection & Test), AI(Visual Recognition, Learning Algorithm 等), 생산시스템(청정기술, Smart Factory 等) |
layers응모 일정
- - 논문 초록 접수 : '20.9.1(火) ~ '20.9.21(月)
- - 초록심사 결과발표 : ’20.9.28(月)
- - 논문 본문 접수 : '20.9.29(火) ~ '20.10.28(水)
- - 본문심사 결과발표 : ’20.11.12(木)
- - 발표심사 : '20.11.27(金)
- - 최종 수상자 발표 : ’20.12.3(木)
- - 시상식 : ’20.12.8(火)
- ※ 일정은 내부사정에 따라 변경가능성 있음
layers시상 내역
- - 대상(1편) : 1,000만원
- - 금상(1편) : 500만원
- - 은상(4편) : 300만원
- - 동상(5편) : 100만원
- - 특별상(최다 논문 제출랩) : 300만원
- ※ 우수 작품이 없을 경우, 해당 부문 수상자가 없을 수도 있음
layers제출물 및 입력사항
- - 全 부문 논문대상 전용 홈페이지에 파일로 제출함
- - 1차 제출물 (9월 21일 마감) 논문초록, 논문관련 확인서 (기본입력사항은 시스템 입력)
- - 2차 제출물 (10월 28일 마감) 최종 논문
layers문의 사항
- - 삼성전기 논문대상 사무국
- E-mail : sem_thesis@samsung.com
- 홈페이지 : samsungsem-contest.kr
- ※ 자세한 사항은 홈페이지를 참조하세요